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產(chǎn)品品牌半導體美國BOWMAN
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更新日期2013-09-27 11:37
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品牌： |
半導體美國BOWMAN |
所在地： |
廣東 深圳市 |
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半導體美國BOWMAN X射線鍍層測厚儀，是采用能量散射X-射線螢光測量原理，符合國際標準來進行非破壞及不接觸的測量。
除了可以測量鍍層厚度外，還可以計算合金中各種元素的含量,至于需要測量電鍍槽內(nèi)的金離子停含量的濃度也是十分簡單,采用最新
數(shù)學FP法，采用激光自動對焦，并配備有Z軸防沖撞傳感器，可防止在對焦時造成一起的損壞。X-RAY膜厚儀等等） 用途：檢測金屬鍍
層膜厚厚度的儀器，保證鍍層厚度品質，減少電鍍成本浪費 產(chǎn)品副名稱：應用范圍較廣的標準型鍍層厚度測量儀 分析:詳述?元素范
圍鋁13到鈾92。x射線激發(fā)能量50 W(50 kv和1 ma)鎢靶射線管，探測器硅PIN檢測器250 ev的分辨率或更高的分辨率?測量的分析層和
元素5層(4層鍍層+基材)和10種元素在每個鍍層成分分析的同時多達25元素半導體美國BOWMAN X射線鍍層測厚儀應用于.五金,電鍍,端
子.連接器.金屬等多個領域.讓客戶滿意是我們金東霖科技始終的目標.
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