1、最小條件原則 用兩個(gè)平行的理想平面包容實(shí)際表面，并使兩理想平面間的距離為最小，此最小距離為平面度誤差值。

2、貼切原則 用一個(gè)理想平面與實(shí)際表面相切，且與實(shí)際表面之間的最大距離為最小，此距離為平面度值

3、最小二乘方原則 將一個(gè)理想平面按實(shí)際表面的趨向，置于實(shí)際表面的中部，并使實(shí)際表面上各點(diǎn)到理想平面的距離平方和為最小，以這個(gè)最小二乘方中心平面作為評定基面，各測點(diǎn)對此平面偏差中最大值與最小值之差為被測表面平面度誤差值。

4、對角線原則 以通過被測表面的一條對角線而平行于另一條對角線的平面作為評定基面，各測點(diǎn)對此平面偏差中最大值與最小值之差為被測面平面度誤差值。

5、環(huán)線法原則 利用測量閉合環(huán)的平差原理，使各被測點(diǎn)平差后的新位置到測量基面的距離變?yōu)楦鼽c(diǎn)相對于理想平面的距離。這時(shí)理想平面就是通過原點(diǎn)的自然水平面。

6、三點(diǎn)法原則 規(guī)定理想平面通過實(shí)際表面上相距最遠(yuǎn)且不在一條直線上的三點(diǎn)形成的平面為評定基面，以各測點(diǎn)距此平面偏差中最大值與最小值之差為所求被測表面的平面度誤差值。

7、最大直線度原則 以實(shí)際表面任一截面最大直線度誤差作為平面度誤差值。

局部誤差