樣芯元素掃描分析

　　XRF Scanner樣芯元素掃描分析系統(tǒng)是由瑞典ITRAX公司在原有CoreScanner的基礎(chǔ)上研制生產(chǎn)，主要用于巖礦樣芯及沉積樣芯元素快速精確高靈敏度掃描分析，分為SC單樣芯掃描分析系統(tǒng)（每次裝載一個樣芯）和MC多樣芯（每次可裝載多個樣芯進行分析）掃描分析系統(tǒng)兩個版本。

　　原理

　　XRF Scanner樣芯元素掃描分析系統(tǒng)采用XRF、數(shù)字X-射線密度成像和高分辨率數(shù)字光學(xué)成像技術(shù)，非破壞性測量，獲得樣品高分辨率的數(shù)碼圖像，然后利用系統(tǒng)軟件對所得圖像和元素信息進行分析。

　　主要技術(shù)特點

　　與其他XRF掃描儀相比，Itrax XRF掃描儀為所有元素提供了單位時間和長度的XRF數(shù)據(jù)質(zhì)量，以及更高的樣品通量

　　可對樣芯一次性掃描分析從Na到U的所有元素及REE（稀土元素）濃度及分布

　　測量不使用氦氣，降低運行成本

　　結(jié)實耐用，輕松完成24小時/7天無人值守操作

　　Itrax掃描儀是惟一一款可在一次掃描中確定所有元素的XRF掃描儀，同時為每個確定的元素提供數(shù)據(jù)

　　Itrax XRF是惟一一臺在連續(xù)樣品掃描中不會因降低或升高掃描頭而降低能力的XRF掃描儀

　　非接觸式分析與非常小的掃描頭相結(jié)合，使Itrax XRF掃描儀非常擅長處理樣品裂縫和斜坡——而不會破壞樣品和數(shù)據(jù)

　　對于XRF分析，Itrax每單位步長分析所需時間僅為1-5秒，即使是1毫米分辨率下的步長也是如此，與其它設(shè)備相比，具有*的高通量優(yōu)勢

　　Polyflat?X-光聚集技術(shù)，非接觸性元素掃描分析，Micro X-光束對每個點精確掃描分析并可進行平均，如沿樣芯每厘米的平均濃度或整個樣芯的平均濃度